Pesquisa do Cefet/RJ é publicada em periódico internacional de microeletrônica

Foi publicado no periódico internacional Journal of Integrated Circuits and Systems (JICS) o artigo “Zero Temperature Coefficient behavior for Ellipsoidal MOSFET”, resultado de pesquisa realizada no Laboratório de Projetos da Coordenação de Eletrônica do Cefet/RJ e que também deu origem a trabalho apresentado recentemente no evento Chip in the Fields. O artigo é de autoria do engenheiro eletrônico Marcos Paulo Braga de Lima, recém-formado pelo Cefet/RJ.

O trabalho contou com a orientação dos professores do Cefet/RJ Luciano Mendes Camillo e Marco Aurélio Pinhel Peixoto, em parceria com os pesquisadores Marcello Marcelino Correa e Salvador Pinillos Gimenez, do Centro Universitário FEI (SP).

O periódico JICS é publicado pela Sociedade Brasileira de Microeletrônica (SBMicro) em parceria com a Sociedade Brasileira de Computação (SBC), tem corpo editorial internacional e publica artigos de pesquisadores do Brasil e do exterior.

O artigo completo pode ser acessado pelo link http://ojs.fei.edu.br/ojs/index.php/JICS/article/view/166/73.